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日本日立Hitachi光電直讀光譜儀OE750/OE720
詳細(xì)信息品牌：日本日立Hitachi 型號(hào)：/OE720 加工定制：否 光源：光電 波長(zhǎng)范圍：119-670 nm 焦距：1200 分析時(shí)間：*** 氣體要求：*** 外形尺寸：425*760*535 mm 日本日立Hitachi光電直讀光譜儀OE-750/OE-720
簡(jiǎn)介
OE720和OE750是突破性的OES金屬分析儀。其涵蓋了金屬*元素的全部光譜，并具有同類(lèi)產(chǎn)品中較低的檢出限。 由于行業(yè)法規(guī)日益嚴(yán)格，供應(yīng)鏈變得復(fù)雜以及更多地使用廢料作為基礎(chǔ)材料，因此鑄造廠和金屬制造商必須將雜質(zhì)和痕量元素控制在*低ppm范圍內(nèi)。在過(guò)去，這一級(jí)別的OES對(duì)許多企業(yè)而言是遙不可及。日立分析儀器推出的OE系列可改變這一現(xiàn)狀。 日立直讀光譜儀可用于分析所有主要合金元素，并識(shí)別金屬中含量較低的雜質(zhì)、痕量元素和關(guān)心元素，OE750還覆蓋了罕見(jiàn)的應(yīng)用，例如銅中的氧氣和鈦中的氧氣、氮?dú)夂蜌錃狻?OE系列的測(cè)量速度快、可靠性高且運(yùn)營(yíng)成本低，可進(jìn)行高性?xún)r(jià)比的日常分析和全面質(zhì)量控制，其性能可與更大、更貴的光譜儀媲美。 *根據(jù)應(yīng)用，有關(guān)更多詳細(xì)信息，請(qǐng)索取我們的應(yīng)用報(bào)告。
臺(tái)式/落地式直讀光譜儀是高性?xún)r(jià)比的金屬分析,OE720和OE750是突破性的OES金屬分析儀。其涵蓋了金屬元素的全部光譜，并具有同類(lèi)產(chǎn)品中較低的檢出限。
日本日立Hitachi光電直讀光譜儀OE-750/OE-720技術(shù)參數(shù)- 類(lèi)型
- 光學(xué), 火花光發(fā)射
- 應(yīng)用領(lǐng)域
- 用于實(shí)驗(yàn)室, 用于氣體分析, 用于分析金屬, 用于冶金產(chǎn)業(yè), 用于鑄造車(chē)間, 用于金屬加工
- 配置
- 臺(tái)式
- 其他特性
- 高解析度, 高精度
- 波長(zhǎng)
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*多: 766 nm
*少: 119 nm
- 長(zhǎng)度
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76 cm
(29.92 in) - 寬度
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43 cm
(16.93 in) - 高度
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54 cm, 125 cm
(21.26 in, 49.21 in)
光學(xué)系統(tǒng)
• LightWing 技術(shù): Paschen-Runge裝置的多CMOS光學(xué)系統(tǒng)和優(yōu)化的像素分辨率
• 焦距: 400 mm
• 波長(zhǎng): OE720: 174-670* nm / OE750: 119-670* nm (*按需求可至766 nm)
• 波長(zhǎng)實(shí)時(shí)校準(zhǔn)
電源
• E100 - 240V AC 50/60 Hz
• *大功率: 430 W
• 待機(jī)功率 45 W (光源打開(kāi)時(shí)功率 : 50 W)
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
•覆蓋所有元素，以低檢出限進(jìn)行完整的金屬分析
•高光學(xué)分辨率，可控制雜質(zhì)和痕量元素
•出色的長(zhǎng)期穩(wěn)定性、精度和準(zhǔn)確性
•OE750：分析氣體（鈦中的氫和氧，銅中的氧）
•購(gòu)買(mǎi)價(jià)格和運(yùn)行成本合理，性能可與更昂貴的分析儀相提并論
•包括全面的金屬數(shù)據(jù)庫(kù)，可快速，輕松地識(shí)別牌號(hào)
•可選的進(jìn)料校正軟件可實(shí)現(xiàn)較佳過(guò)程控制
•與基于云的數(shù)據(jù)管理的連接
應(yīng)用行業(yè)
• 過(guò)程的質(zhì)量控制和冶煉的驗(yàn)證：分析模式/牌號(hào)鑒定
• 為所有相關(guān)的合金、殘留物、處理、痕量元素和雜質(zhì)元素提供較低檢出限
• 鐵：合金、鑄鐵，氮含量低至10 ppm (僅OE750)
• 鋁：合金、鑄造合金、鍛造合金……
• 銅：青銅、黃銅、白銅……
• 鎳：哈氏合金、Inconel合金、蒙乃爾合金，氮元素低至20 ppm
• 鈦：純鈦、鈦6-4、鈦8-錳，包括氫、氧、氮等氣體元素 (僅OE750)
• 鎂、鈷、鉛、錫、鋅合金、焊料及其他
新型OE750是一款突破性的新型OES金屬分析儀。其涵蓋了金屬元素的全部光譜，并具有同類(lèi)產(chǎn)品中zui*低的檢出限。
由于行業(yè)法規(guī)日益嚴(yán)格，供應(yīng)鏈變得復(fù)雜以及更多地使用廢料作為基礎(chǔ)材料，因此鑄造廠和金屬制造商必須將雜質(zhì)和痕量元素控制在zui*低ppm范圍內(nèi)。在過(guò)去，這一級(jí)別的OES對(duì)許多企業(yè)而言是遙不可及。日立分析儀器推出的新型OE750可改變這一現(xiàn)狀。
這款直讀光譜儀可用于分析所有主要合金元素，并識(shí)別金屬中含量極低的雜質(zhì)、痕量元素和處理元素，如鋼中的氮。 OE750的測(cè)量速度快、可靠性高且運(yùn)營(yíng)成本低，可進(jìn)行高性?xún)r(jià)比的日常分析和全面質(zhì)量控制，其性能可與更大、更貴的光譜儀媲美。
為什么選擇OE750?1. 值得信賴(lài)的結(jié)果在同類(lèi)產(chǎn)品中控制雜質(zhì)和痕量元素的光學(xué)分辨率zui*高。
2. L綜合成本低負(fù)擔(dān)得起的購(gòu)買(mǎi)和運(yùn)行成本，提供更貴分析儀器所具備的性能。
3. 保持運(yùn)行不間斷設(shè)計(jì)可靠，維護(hù)和標(biāo)準(zhǔn)化要求極低。
4. 支持連續(xù)生產(chǎn)分析速度快，啟動(dòng)時(shí)間短，可快速反饋熔液質(zhì)量。
只需一臺(tái)價(jià)格合理的OE750設(shè)備，就能提供快速全面的金屬質(zhì)量分析，滿(mǎn)足您所有的需求。 -
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產(chǎn)品分類(lèi)
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
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